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瞬间判定硅结晶基板的品质和太阳能电池的特性!--电流调制四探针电阻率测定法(Current-Modulating Four-Point-Probe (CMR) Method)的开发--

东北大学金属材料研究所的藩伍根(Han Gokon)博士们开发出了新的太阳能硅结晶基板的品质评价方法。虽然硅太阳能电池的能量转换效率很大的依存于硅晶基板中的不均匀性(所有的缺陷和杂质分布),但是到目前为止并没有把基板全体空间中存在的不均匀性以一个测定值来评估并从获得的评估值可以预测太阳能电池特性的方法。这次开发的方法使测定反映硅结晶板中存在的不均匀性的品质评估值成为可能,是史无前例的不制作太阳能电池也能判定太阳能电池特性的新的评估方法。本开发成果不仅是评估太阳能电池用的硅结晶基板的品质,也可以评价太阳能制造技术的优劣,从而为新一代的硅太阳能电池的低成本化・高效率化以及太阳能电池产业的发展做出了很大的技术方面的贡献。本项研究成果,预定登载在应用物理快报上。

 

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[联系方式]
东北大学金属材料研究所
藩伍根(Han Gokon)博士
邮箱:wugenpan*imr.tohoku.ac.jp(把*换成@)
电话:022-215-2102

藤原 航三(Fujiwara Kozo)副教授
邮箱:kozo*imr.tohoku.ac.jp(把*换成@)
电话:022-215-2102

宇田 聪(Uda Satoshi)教授
邮箱:e-mail:uda*imr.tohoku.ac.jp(把*换成@)
电话:022-215-2100

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