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アドバンテスト社製メモリテスターを用いて、 磁気ランダムアクセスメモリ(STT-MRAM)の 歩留まり率の向上と高性能化を実証

指定国立大学法人東北大学国際集積エレクトロニクス研究開発センターの遠藤哲郎センター長(兼 同大学大学院工学研究科教授、先端スピントロニクス研究開発センター(世界トップレベル研究拠点)副拠点長、省エネルギー・スピントロニクス集積化システムセンター長、スピントロニクス学術連携研究教育センター 部門長)のグループは、CIES コンソーシアムでの産学共同研究並びに、科学技術振興機構 産学共創 プラットフォーム共同研究推進プログラム(領域統括:遠藤哲郎)において、株式会社アドバンテスト(代表取締役 兼 執行役員社長:吉田 芳明 本社:東京都千代田区丸の内1 丁目6 番2 号 以下、アドバンテスト)と共同で、アドバンテスト社製のメモリテスターを用いて次世代メモリである磁気ランダムアクセスメモリの歩留まり率の向上と高性能化の実証実験に成功しました。

今回の実証実験の成功は、本学国際集積エレクトロニクス研究開発センター(略称CIES)が推進するCIES コンソーシアム並びに、東北大学が幹事機関を務め、東北大学・京都大学・山形大学と先進的企業群の力を結集して、産学共創プラットフォームの形成を目指すOPERA における開発体制によるものです。

以上の成果は、2018 年5 月13 日~16 日の間、京都で開催されるメモリ集積回路に 関する国際学会である「米国電子情報学会(※1)主催の国際メモリワークショップ(IEEE International Memory Workshop)」で発表致します。

(※1)米国電気電子学会 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. 通称 IEEE (アイ・トリプル・イー)。米国に本拠を置く世界最大の電気・電子技術に関する学会組織。

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問い合わせ先

(研究内容及びセンターの活動に関して)
東北大学国際集積エレクトロニクス研究開発センター
センター長・教授 遠藤哲郎 TEL:022-796-3400
(その他の事項について)
東北大学国際集積エレクトロニクス研究開発センター内
OPERA 支援室長 山川佳之 TEL:022-796-3405
E-mail:opera-shien*grp.tohoku.ac.jp (*を@に置き換えてください)

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